袁維傑
( 上海工業自動化儀表研究院有限公司，上海 200233)
摘 要:針對吹膜生產工藝無法用穿透式直接對管膜進行厚度測量的問題，利用吹膜生產工藝中旋轉卷繞特性，設計了用於管膜在線厚度測量的X射線測厚儀。因穿透式測厚儀是對折疊後上下兩層管膜進行厚度測量，而最終結果要求的是單層管膜厚度及對應的擠出模頭位置，故希望被測的上下兩層厚度一致; 而最有可能保證上下兩層薄膜厚度一致的位置是管膜折疊邊緣，所以厚度測量點越靠近管膜折疊邊緣，所獲得的結果越準確。所設計的 C 型結構X射線測厚儀具有測量點跟蹤管膜邊緣功能，可在不同的吹膜生產設備上安裝使用。尤其對管膜折疊卷繞過程中折疊邊緣左右移動的情況，該測厚儀能很好地保持測量點在管膜折疊邊緣處測量，提升了測量準確度，在實際安裝應用中也得到了驗證。
關鍵詞: X射線測厚儀;吹膜厚度測量;在線檢測;薄膜邊緣檢測;微處理器
0 引言
薄膜生產的常用工藝有壓延法、流延法、拉伸法和吹膜法等［1］。吹膜工藝因其工藝設備簡單、薄膜幅寬、沒有邊廢料而得到了廣泛應用［2］。目前，吹膜工藝都是用反射式測厚儀直接對圓形管膜上的管壁進行在線測量，而穿透式測厚儀無法直接對管壁進行測量。為解決管壁厚度不均造成收卷時的爆筋現象，吹膜生產工藝所采取的旋轉收卷方法，使穿透式測厚儀對管壁實現在線測量成為可能。本文利用吹膜工藝的旋轉收卷功能，用穿透式X射線測厚原理，設計了一台可間接對吹膜生產中的管壁厚度進行在線測量的X射線測厚儀。
1 用於吹塑薄膜生產的X射線測厚儀設計
吹膜生產工藝具有旋轉收卷特性，即管狀薄膜上的每個點都會經過折疊邊緣，對折疊薄膜邊緣連續測量等同於對管狀薄膜旋轉測量。根據旋轉起始點與模頭的對應關係，可以推算出當前測量點顯示值(即為對應模頭擠出厚度值，這樣就可以進行實時在線測量和顯示管膜的薄膜厚度)。由於是對折疊後的管膜進行測量，所測得的是兩層管膜厚度值，所以，如果折疊的上下兩層管膜厚度一致或接近，則測量顯示厚度與實際厚度相等。為了減少由於兩層膜厚度的偏差可能造成的測量誤差，測量點越靠近折疊邊緣，測量結果將會越準確。這是因為折疊邊緣處上下二層厚度偏差最小。所以對於穿透式X射線測量管膜厚度測厚儀，應能控製測量點在薄膜內且盡量靠近薄膜邊緣。
有些吹膜生產設備在收卷膜時薄膜會左右移動，對X射線測量造成很大影響。因此，設計應用於吹膜生產設備的X射線測厚儀時，應使其具備厚度測量、薄膜邊緣檢測及跟隨薄膜邊緣移動的功能。
1.1X射線測厚原理
X射線厚度測量是由發射端發射X射線，射線穿過被測介質後由接收探測器測量X射線強度，並通過換算得出被測介質的厚度。計算公式如下:
式中: U為X射線穿過介質後探測到的電壓值; U0為發射源與探測器之間隻有空氣時探測到的電壓值; A為常數;μ為被測介質的吸收係數; d為被測介質的厚度。
A和μ是與被測介質相關的2個常數，通過對被測介質的標準樣品進行測量獲取。當確定了A和μ，並測量得到U0和U值，用式(1) 就可以得到介質的厚度值d［3］。
1．2 硬件設計
整個X射線測厚儀由薄膜厚度測量和薄膜邊緣跟隨兩部分組成。這兩部分相對獨立，通過一對命令狀態線協同工作。
1．2．1 薄膜厚度測量
厚度測量頭由X射線管、電離室、微信號放大器、高壓電源構成。其將厚度信號轉變成電信號，再經信號采集和工控機處理，將薄膜的厚度轉換成對應數值，在顯示屏上顯示［4］。
考慮到有些吹塑薄膜生產設備從折疊到卷繞間距很小，且有些還有傾斜角度，因此要求 X射線測量頭盡量小巧，且可以根據傾斜角度進行調整。在選用 X射線發射管時，選擇了透射式X射線管。傳統的X射線管是將熱陰極電子通過高壓電場的作用打到陰極靶麵上，X射線轉換效率不足2% ，大部分功耗變成熱能。而透射式X射線管是陽極端靶材直接鍍在鈹窗內側，當陰極發射的電子轟擊鍍在鈹窗內側的靶材時，所產生的X射線可直接透過靶材和鈹窗輻射。因此在同樣功率條件下，透射靶X射線管要比反射靶X射線管所產生的X射線效率要高且體積小。同樣地，在電離室選型上，也是選用了直徑僅75 mm 的高靈敏電
離室，並配上微信號放大器構成X射線探測器。由透射式X發射管和X射線探測器，可構成小巧且易於安裝的厚度測量頭。
厚度測量信號通過信號采集板被工控機讀取。同時被讀取的還有當前模頭位置信號。通過計算得到厚度值和模頭號，將連續測量結果顯示在操作顯示屏幕上，可觀察到管膜圓周上的厚度變化曲線。
1．2．2 薄膜邊緣跟隨
為了保持X射線測量頭靠近管膜的折疊邊緣，解決部分吹膜生產設備旋轉折疊卷繞時薄膜邊緣左右移動造成的測量偏差問題，需要有一套既能檢測薄膜邊緣位置又能使X射線測量頭跟隨薄膜邊緣移動的裝置［5］。其必須具備較高的移動響應速度。薄膜邊緣跟隨模組就是為此而設計的。
薄膜邊緣檢測模組由激光頭、一組光電接受頭組成; 通過對光電信號處理，可獲取當前薄膜邊緣與厚度測量頭的相對位置［6］。通過控製步進電機來驅動測量頭，可使測量頭處在最佳測量位置。
通常管膜是透明的且隻有幾十微米厚度，因此識別有膜與無膜就是關鍵。通過各種測試，最後選用一字激光頭加一組BPW34 光電管，利用激光穿透薄膜的能量衰減來感知當前測 量點是否有薄膜。雖 然BPW34 響應最靈敏區域在850～950 nm 波長，但為了操作和調整方便還是選擇了650 nm 波長。其為可見紅光，既能滿足薄膜有無檢測的需求，又能方便調試和維護。
為了保證X射線測量頭保持在盡量靠近管膜折疊邊緣且又不使X射線測量頭頻繁來回移動，需要檢測到薄膜邊緣與X射線測量頭相對位置，超出偏差範圍需及時調整。因此，必須知道薄膜邊緣在檢測區域中的位置。因為需要檢測一個區域，故選用一字型激光頭5個 BPW34光電二極管構成區域檢測。薄膜邊緣檢測如圖1所示。
圖1 薄膜邊緣檢測示意圖
薄膜邊緣位置以中間檢測點為基準，通過中間點狀態檢測來控製X射線測量頭移動方向及到位停止。
為便於跟隨模組的運行診斷，模塊內部安裝OLED顯示器，可顯示當前工作狀態、與測厚程序的間接口狀態信息、驅動輸出控製信息、薄膜邊緣檢測信息、係統異常時的故障碼等，有故障或需要讀取時點亮，正常狀態下會自動關閉。
薄膜邊緣檢測模組運行模式切換到手動狀態時，可以手動控製檢測頭移動和標定被測薄膜。通過標定，可以解決激光頭衰減、光電器件老化、薄膜品種變更等因素造成的檢測異常等問題。
1．2．3X射線測厚儀功能框圖
X射線測厚儀電路功能框圖如圖2所示。虛線框內的硬件模塊、電路安裝在操作控製箱內，可安裝在便於監控操作的位置; 其餘部分安裝在C型掃描架上，需安裝在收卷檢測薄膜位置。
圖2 X射線測厚儀電路功能框圖
1． 3 結構設計
為了適應不同的機器安裝，將X射線測量頭設計成可調結構。C型掃描結構如圖 3 所示。
圖3 C型掃描架結構圖
模組的安裝平台是固定在吹膜生產設備上的，可旋轉測量頭懸掛在安裝平台的滑動模組上。改變懸掛角度，可使X射線與被測薄膜保持垂直，提高測量精度和穩定性，達到最佳測量效果。可旋轉測量頭下部安裝的X射線發射管和安裝在上部的X射線探測器構成了測量回路。通過調整X射線發射管位置，可調節測量間隙，滿足不同工況條件需求。在X射線測量回路側麵安裝了薄膜邊緣檢測頭，檢測被測薄膜是否處在測量回路中。
安裝平台上的滑動模塊由步進馬達帶動，由滑動模塊再帶動可旋轉測量頭移動。也就是說，X 射線測量回路可通過控製步進馬達使測量點左右移動。為了防止滑動模塊超出移動範圍，對步進電機及驅動電路進行保護，在滑台左右兩端安裝了限位接近開關。基於模組的外形及體積上的要求，選用的步進電機功率較小，以能驅動滑台為準; 通過對步進電機升降時序控製，可解決快速移動滑台需求［7-8］。
如果在收卷前位置對薄膜測量，則安裝平台可固定在收卷輥側板上。滑台的滑動距離根據生產品種和實際工況條件進行選擇。考慮到滑塊負重，一般選擇滑台移動距離在400 cm 以內。
1．4 軟件設計
整個測厚儀軟件由兩部分構成: 基於Windows 的采用C語言和VB．net 開發的厚度測量顯示軟件和基於STM 平台用C語言開發的薄膜邊緣跟蹤控製軟件。
1．4．1X射線厚度測量軟件設計
厚度測量程序是這個X射線測厚儀的主控程序，用於實現人機操控界麵、測量數據采集、數據處理、監控跟隨係統及監控和處理測厚儀運行狀態等功能。X射線測厚儀軟件流程如圖 4 所示。
圖4 X射線測厚儀軟件流程圖
1．4．2 X射線探測頭標準化處理
X射線運行一段時間後，隨著時間和溫度的變化，U0也會發生變化。根據厚度計算公式(1)，U0的變化將影響計算後的厚度值。為了保證測量準確，需要不斷監測U0 的變化。標準化處理就是對U0 的監測處理［9］。通常，標準化處理周期是按實際使用環境來設置為定時自動處理，但也可按需要進行手動處理。按U0定義就是X射線探測頭在沒有介質的狀態下測得的電壓值，標準化就是將X射線測量頭移到沒有被測
介質遮擋的位置讀取電壓值。
標準化處理過程: 當到達設定的時間或掃描次數後，測厚程序發命令給跟隨模組; 模組收到命令後控製滑台回到起始位置，到位後輸出完成狀態; 測厚程序收到到位信息後開始讀取、計算、處理和更新U0，完成後重新進入啟動測量過程。
1．4．3 薄膜邊緣跟隨軟件設計
跟隨模塊選用STM8 微處理器為控製器，處理薄膜邊緣信號檢測、控製驅動X射線測量頭跟隨薄膜移動、與測厚程序同步工作、顯示當前工作狀態信息等，可對薄膜檢測頭進行標定，並可手動操控滑台移動。跟隨控製程序流程如圖5所示。
圖5 跟隨控製程序流程圖
當跟隨模塊初始化完成且設置在自動狀態時，跟隨模塊將接收測厚程序控製，完成薄膜邊緣跟隨和U0標定工作; 如果跟隨模塊設置為手動狀態，則可以手動控製滑台移動或進入薄膜邊緣檢測標定操作。標定操作是通過長按標定按鈕與狀態指示反饋來顯示操作所處步驟，標定操作需完成讀取無膜、有膜閾值並計算處理和保存等。標定過程中，可通過切換到自動狀態來終止標定工作。
2 X射線測厚儀應用結果
目前，根據用戶的吹膜生產設備及生產的產品類型，製作了適用於該吹膜生產設備的 C 型X射線測厚儀。該設備生產的是熱縮膜，有多種規格，厚度為15～25μm、寬度為1．6 ～ 1．8 m。根據實際生產時薄膜晃動情況，將X射線測量頭間距設置為20 mm，選用最大行程為300 mm 滑台可滿足不同產品寬度及薄膜偏移的 需 求。X射線測量點直徑10 mm，測量精 度在±1μm內，測量中心點與薄膜邊緣間距15 mm，允許測量偏離範圍在±5 mm內，跟隨響應時間在0．5 s內。
在安裝了X射線測厚儀的生產設備上，操作員可以實時看到當前的產品厚度及均勻度，並及時調整模頭間隙，以提高產品的質量並能降低產品成本。尤其是更換生產品種時，對於設備的調整給予很大幫助，可減少調整時間和調整時所耗費的原材料。
X射線測厚儀小巧且安裝簡單，現已有多套安裝在該類吹膜設備上運行。因采用的是低能X射線，所以在安全上屬於免檢產品，比起使用放射源的反射式測厚儀，管理成本更低也更安全。
3 結束語
本文設計了適用於吹塑薄膜生產的X射線測厚儀，解決了吹膜生產工藝中使用穿透式測厚儀來測量管膜厚度存在的兩個問題。①厚度測量點要保持在管膜折疊處，這樣上下兩層薄膜厚度相對一致，可保證測量精度。②厚度測量點位置與吹膜模頭要有確切的對應關係，這樣厚度測量值可正確對應到模頭位置，便於調整模頭使生產的薄膜厚度均勻提升產品質量。該測厚儀具備測量點跟蹤管膜邊緣功能，具有廣闊的應用前景。
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